焊縫哪里最容易腐蝕？——EC-PEN，讓局部腐蝕風險看得見

標注:該圖為AI生成

焊縫、母材、熱影響區（HAZ），看起來只差幾毫米，腐蝕行為卻可能不同

     2024 年發表于 npj Materials Degradation 的研究中，科研人員使用 IPS EC-PEN 電化學腐蝕測試筆，對水下焊接接頭的母材、HAZ 與焊縫金屬進行局部極化測試。論文中，S355JR 的母材腐蝕電位約為 ?510 mV，而 HAZ 降至約 ?565 mV；S460NL 也表現出類似趨勢。

1 mm2級局部測試，鎖定真正的薄弱區

      EC-PEN 將參比電極、對電極與電解液集成于筆式傳感單元，可直接接觸目標位置進行局部電化學測量。IPS 常規產品資料給出的筆尖測量面積約為 1.5 mm2，特別適合焊縫、HAZ、局部涂層及復雜構件的定點測試。

前期發現風險，后期腐蝕結果得到印證

     論文進一步進行了海洋環境和鹽霧腐蝕試驗。研究發現，采用奧氏體焊材時，局部腐蝕主要發生于熱影響區；波羅的海暴露約 1.5 年后，局部腐蝕深度約 250 μm，鹽霧試驗中約 390 μm。

EC-PEN 的價值，不只是“測腐蝕"，它更重要的是告訴你：腐蝕發生在哪里。

焊縫 ?

熱影響區 HAZ ?

母材 ?

表面處理區域 ?

局部涂層 ?

大型及復雜構件 ?

IPS EC-PEN把電化學測試，做到真正需要關注的位置。

IPS 愛譜斯成立于德國，長期專注電化學測試設備、附件及應用解決方案，并提供 EC-PEN 等局部腐蝕測試產品。

論文案例： Vaccari et al., npj Materials Degradation, 2024

DOI：10.1038/s41529-024-00471-9